Advanced electrical impedance tomography system with high...

Advanced electrical impedance tomography system with high phase accuracy

Egon Zimmermann, J. A. Huisman, A. Kemna, J. Berwix, W. Glaas, H. Meier, B. Wolters, O. Esser
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pp. 583 - 591 in the abstracts volume
Categorías:
Technique - Electronics
Año:
2010
Editorial:
International Society for Industrial Process Tomography
Idioma:
english
Páginas:
9
Serie:
6th World Congress on Industrial Process Tomography
Archivo:
PDF, 826 KB
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2010
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